KINO Series : 12 Inch Frame Wafer Inspection ( With Macro )


    ●特點

    > 可搭配 KLA File 或其他 Wafer Map。

    > 可採用挑選檢查模式與順序檢查模式。

    > 巨(宏)觀檢查以及採用大面積高亮度檢驗治具。


    丨技術規格丨
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